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        產品[

        IC電磁發射測試系統

        ]資料
        如果您對該產品感興趣的話,可以
        產品名稱: IC電磁發射測試系統
        產品型號: 1Ω/150Ω直接耦合法
        產品展商: Langer
        產品文檔: 無相關文檔


        簡單介紹
        依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法是根據集成電路電磁兼容測試標準,目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統-1Ω/150Ω直接耦合法,用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。

        IC電磁發射測試系統

        的詳細介紹


        集成電路EMC測試系統

        依據IEC 61967-4的IC電磁發射測試系統
        傳導發射測量方法——1Ω/150Ω直接耦合法

        集成電路電磁兼容測試標準,目前出版的有集成電路電磁發射測試標準IEC61967和集成電路電磁抗擾度標準IEC62132 。IEC61967標準,用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發射測試。
        IEC61967-4規定了兩種測試方法:1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流,150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。

        全套測試系統,由以下幾個部分組成:
        1.EMI測試接收機,可選ESL3
        標準對頻譜儀或接收機的要求:
        ? 頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
        ? 峰值檢波、帶Max值保持功能
        ? 分辨率帶寬的設置如下表:

        測量儀器
        頻段
        150kHz30MHz
        30MHz1GHz
        頻譜分析儀(3dB
        10kHz
        100kHz
        接收機(6dB
        9kHz
        120kHz

         

        2.測試電路板
        對集成電路的EMC測試,被測IC需要安裝在一塊印制電路板上,為提高測試的方便性與重復性,標準規定了電路板的規格,標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。
        GND22-04測試電路板,完全依據集成電路電磁兼容測試要求設計,由下列部件構成:
        ? 測試板
        ? GND平面GND22-04
        ? 連接板CB 0706
        ? IC適配器
        ? 控制單元


        3.Probe 603電流探頭以及Probe 750電壓探頭
        Probe 750:依據IEC 61967-4的電壓探頭
        應用:測量IC引腳的電壓,依據IEC 61967-4的150Ω法
        主要技術參數:
        ? 輸入阻抗:150 ?
        ? 頻率范圍:可達3GHz
        ? RF輸出:50 ?
        ? 50Ω頻率響應

        Probe 603: 依據IEC 61967-4的電流探頭
        應用:測量IC引腳的電流,依據IEC 61967-4的1Ω法
        主要技術參數:
        ? 分流電阻:
        Probe 602:0.1歐姆
        Probe 603:1歐姆
        ? 耦合電容:85 μF
        ? 分流電阻*大功耗:2.5瓦
        ? RF輸入:1nH
        ? RF輸出:50 ?
        ?不帶前置放大器:-6dB
        ? 頻率范圍:200Hz-3GHz


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