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        產品[

        IC電磁發射測試系統

        ]資料
        如果您對該產品感興趣的話,可以
        產品名稱: IC電磁發射測試系統
        產品型號: TEM小室法
        產品展商: Langer
        產品文檔: 無相關文檔


        簡單介紹
        依據IEC 61967-2的IC電磁發射測試系統-TEM小室法其實就是一個變型的同軸線,由一塊扁平的芯板作為內導體,外導體為方形,兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡,一頭連接同軸線到測試接收機,另一頭連接匹配負載。IC電磁發射測試系統中的小室的外導體頂端有一個方形開口用于安裝測試電路板。

        IC電磁發射測試系統

        的詳細介紹


        IEC61967-2 規定的TEM小室IC電磁發射測試系統,其實就是一個變型的同軸線:

        在此同軸線中部,由一塊扁平的芯板作為內導體,外導體為方形,兩端呈錐形向通用的同軸器件過渡,一頭連接同軸線到測試接收機,另一頭連接匹配負載,如下圖所示。小室的外導體頂端有一個方形開口用于安裝測試電路板。其中,集成電路的一側安裝在小室內側,互連線和外圍電路的一側向外。這樣做使測到的輻射發射主要來源于被測的IC芯片。受測芯片產生的高頻電流在互連導線上流動,那些焊接引腳、封裝連線就充當了輻射發射天線。當測試頻率低于TEM小室的一階高次模頻率時,只有主模TEM模傳輸,此時TEM小室端口的測試電壓與騷擾源的發射大小有較好的定量關系,因此,可用此電壓值來評定集成電路芯片的輻射發射大小。

        TEM小室法輻射發射測試示意圖

        全套測試系統,由以下幾個部分組成:
        1.EMI測試接收機,可選ESL3或者ESL6
        標準對頻譜儀或接收機的要求:
        ·頻率范圍覆蓋150kHz-1GHz
        ·峰值檢波、帶Max值保持功能
        ·分辨率帶寬的設置如下表:

        測量儀器
        頻段
        150kHz30MHz
        30MHz1GHz
        頻譜分析儀(3dB
        10kHz
        100kHz
        接收機(6dB
        9kHz
        120kHz

        R&S® ESL EMI測試接收機,是一臺能依據*新標準進行電磁干擾測試的EMI接收機,同時也是一臺全功能的頻譜分析儀。
        ESL3 EMI測試接收機,完全符合IEC 61967標準要求,同時還能對設備級產品進行電磁兼容預測試。

        2.測試電路板
        對集成電路的EMC測試,被測IC需要安裝在一塊印制電路板上,為提高測試的方便性與重復性,標準規定了電路板的規格,標準電路板的大小與TEM小室頂端的開口大小匹配。
        IC測試電路板,完全依據集成電路電磁兼容測試要求設計,由下列部件構成:
        · 測試板
        ·GND平面GND22-04
        ·連接板CB 0706
        ·IC適配器
        ·控制單元

        3.TEM小室
        主要技術參數:
        ·頻率范圍:DC-2GHz
        ·Max駐波比:1.2:1
        ·RF連接器:N型
        ·Max輸入功率:500瓦
        ·10V/m電場場強所需功率:<3.7mW
        ·1000V/m電場場強所需功率:<37瓦
        · Max EUT尺寸(cm):6x6x1

        ·外形尺寸(cm):15.2 x 9.9 x 33.8

         


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