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        產品[

        微同軸屏蔽效能測試裝置

        ]資料
        如果您對該產品感興趣的話,可以
        產品名稱: 微同軸屏蔽效能測試裝置
        產品型號: HDS-18
        產品展商: 華瑞高(horigol)
        產品文檔: 無相關文檔


        簡單介紹
        微同軸屏蔽效能測試裝置HDS-18適用于導電薄膜、薄型織物、金屬薄板、含導電涂覆層或鍍層的薄型電磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的測量,目前暫無標準與之對應,微同軸屏蔽效能測試裝置的測試原理同ASTM 4935-2010 規定的測試裝置。

        微同軸屏蔽效能測試裝置

        的詳細介紹

        HDS-18微同軸屏蔽效能測試裝置是在ASTM 4935-2010標準的基礎上進行改進的微波頻段測試夾具,超精密加工的微同軸部件在測試頻率范圍內具有很小的駐波比和插入損耗,有效保證測試結果的真實性與準確性,測試裝置核心夾具采用不銹鋼加工,中心微導體采用鍍金工藝處理,保證良好性能的同時具備美觀耐用性。

        技術參數:

        1. 測試頻率范圍:1GHz~18GHz,(可在10MHz~18GHz內使用)

        2. 醉大駐波比(VSWR):<1.2(1GHz~18GHz)

        3. 插入損耗:<1.5dB(1GHz~18GHz)

        4. 外形尺寸:260mm×160×200mm(H×W×D)

        5. 重量:2kg

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